Nanoscale Investigation of Belgian Chocolate by Atom Probe Tomography.
Verfasser: | |
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Dokumenttyp: | Artikel |
Erscheinungsdatum: | 2017 |
Reihe/Periodikum: | Microscopy and Microanalysis ; volume 23, issue S1, page 708-709 ; ISSN 1431-9276 1435-8115 |
Verlag/Hrsg.: |
Oxford University Press (OUP)
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Schlagwörter: | Instrumentation |
Sprache: | Englisch |
Permalink: | https://search.fid-benelux.de/Record/base-27316293 |
Datenquelle: | BASE; Originalkatalog |
Powered By: | BASE |
Link(s) : | http://dx.doi.org/10.1017/s1431927617004202 |