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A survey of failure prediction models offered by vendors with an application to Belgian data
Van Roy, Patrick
,
Mitchell, Janet
2007
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Sensitivity of credit risk stress test results: Modelling issues with an application to Belgium
Van Roy, Patrick
,
Ferrari, Stijn
,
Vespro, Cristina
2018
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2
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Personen
Van Roy, Patrick
2
Ferrari, Stijn
1
Mitchell, Janet
1
Vespro, Cristina
1
Schlagwörter
C52
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Economie
1
G21
1
capital requirements
1
credit risk
1
ddc:330
1
modelling choices
1
sensitivity analysis
1
stress tests
1
Dokumenttyp
Artikel
1
doc-type:workingPaper
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