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A Site-Specific Grain Yield Response Surface : Computing the Identity Card of a Crop Under Different Nitrogen Management Scenarios
Dumont, Benjamin
,
Basso, Bruno
,
Leemans, Vincent
,
Destain, Jean-Pierre
,
Bodson, Bernard
,
Destain, Marie-France
2013
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Destain, Marie-France
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Dumont, Benjamin
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Leemans, Vincent
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Schlagwörter
Agriculture & agronomie
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Agriculture & agronomy
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Belgium
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Computer science
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Engineering
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Ingénierie
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Life sciences
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N management
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Probability risk assessment
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STICS crop model
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Sciences du vivant
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Sciences informatiques
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Yield prediction
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computing & technology
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informatique & technologie
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conference paper
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